蔡司Sigma 系列高品质成像与高级分析的场发射扫描电子显微镜

蔡司Sigma 系列高品质成像与高级分析的场发射扫描电子显微镜

蔡司Zeiss Sigma 系列将高级的分析性能与场发射扫描技术相结合,利用成熟的 Gemini 电子光学元件。多种探测器可选:用于颗粒、表面或者纳米结构成像。用于高品质成像与高级分析的场发射扫描电子显微镜。

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总体描述

Sigma 系列产品

用于高品质成像与高级分析的场发射扫描电子显微镜

灵活的探测,4步工作流程,高级的分析性能

将高级的分析性能与场发射扫描技术相结合,利用成熟的 Gemini 电子光学元件。多种探测器可选:用于颗粒、表面或者纳米结构成像。Sigma 半自动的4步工作流程节省大量的时间:设置成像与分析步骤,提高效率。


Sigma 300 性价比高。Sigma 500 装配有一流的背散射几何探测器,可快速方便地实现基础分析。任何时间,任何样品均可获得精准可重复的分析结果。


技术参数:



特点:



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