蔡司Versa X射线显微镜
借助亚微米级分辨率的三维X射线成像探索更多信息
蔡司Versa X射线显微镜功能强劲，是全球研究人员和科学家的可靠之选。Versa XRM提供直观的用户界面，确保每位用户能够充分提高工作效率并获得满意的结果。Versa XRM注重优化实际设置中的真实分辨率，出众的清晰度助您目尽毫厘。蔡司以出色的稳定性和准确性享誉全球，其对质量的承诺在Versa XRM的每个细节中都得以充分体现。您的投资必定会经受住时间的考验，解您未来之需。
出色的分辨率与出众的性能相得益彰——蔡司VersaXRM 730
更快的亚微米级成像——蔡司VersaXRM 615
灵活且易于使用——蔡司Xradia 515 Versa
VersaXRM 730
探索蔡司VersaXRM 730的无限潜能，尽享其特色的40×-Prime物镜和屡获殊荣的ZEN navx。该系统凭借出众的图像分辨率性能，重新定义了亚微米成像，为您的研究带来了全新的突破性功能。ZEN navx利用智能系统的洞察力简化工作流，确保轻松高效地获取结果。基于人工智能的重构为出色的图像质量提供加持，DeepRecon Pro有效提高通量，而FAST模式可在一分钟内实现断层扫描。使用蔡司VersaXRM 730，开启探索样品的新时代。
450 nm空间分辨率搭配出色性能
ZEN navx以用户为本的导航和控制
一分钟断层扫描和端到端三维重构
借助出众的分辨率性能来革新您的研究
蔡司40×-Prime物镜
蔡司VersaXRM 730搭载特色的40×-Prime物镜，助您在30 kV至160 kV的完整源电压范围内实现450-500 nm的出色图像分辨率性能。这一特色为研究人员解锁了全新的应用程序功能，推动了亚微米成像分辨率的行业标准发展。此外，随着X射线光子的增加，可在不影响分辨率的情况下更快获取各种样品的结果。蔡司VersaXRM以实现大工作距离高分辨率（RaaD™）的功能而闻名，始终能够在长尺度范围内对多种样品类型和尺寸进行高分辨率成像。凭借VersaXRM 730特色的40×-Prime物镜和更高的能量，如今您将体验到超越以往的亚微米成像。
基于人工智能的优质图像
高级重构工具箱中的蔡司DeepRecon Pro
蔡司DeepRecon Pro已成为XRM重构的强大工具，因此VersaXRM 730包含了ART高性能工作站和DeepRecon Pro（许可证为期两年）。
DeepRecon Pro是一项基于人工智能的创新技术，可为各种应用带来出色的效率和图像质量优势。DeepRecon Pro既适用于单个样品，也适用于半重复和重复的工作流。用户现可通过使用简便易用的界面在现场独立训练全新的机器学习网络模型。DeepRecon Pro的一键式工作流让新手用户也能熟练操作，无需熟知机器学习技术的专家从旁辅助。
揭示晶体结构信息
用于衍射衬度断层扫描（DCT）的LabDCT Pro
用于衍射衬度断层扫描（DCT）的LabDCT Pro仅为蔡司VersaXRM 730提供，可实现对晶粒取向和微观结构的无损三维成像。三维晶粒取向的直接可视化开辟了多晶材料表征的新维度（如金属合金、地质材料、陶瓷或药品）。
LabDCT Pro支持从立方对称的晶体结构到低对称系统（如单斜晶系材料）的样品。
使用专用4X DCT物镜采集高分辨率晶体信息。对于更大样品，使用平板探测器（FPX）进行大面积高效率面分布成像。
对更大的代表性体积和各种不同的样品几何形状进行全面的三维微观结构分析。
利用四维成像实验研究微观结构演化。
将三维晶体信息和三维微观结构特征相结合。
结合多种模式以了解结构-属性关系。
在衬度方面更进一步
双扫描衬度可视化系统（DSCoVer）为VersaXRM 730所独有，通过结合在两种不同X射线能量下拍摄的断层图像信息，扩展了在单个能量吸收图像中捕获的细节。DSCoVer（双扫描衬度可视化系统）充分利用X射线与材料中的有效原子序数和密度的相互作用，以此为您提供较好的区分能力，例如，它能够识别岩石内的矿物差异性、区分硅和铝等难以辨识材料的差异。
实现全新的自由度
旗舰产品VersaXRM 730提供额外的特色和成像功能。
使用先进的采集技术，如高纵横比断层扫描成像（HART），提高大体积、扁平或不规则样品的扫描速度和精度。
利用宽场模式（WFM）对大型样品进行灵活成像，可用于横向拼接投影图像，以形成更广的横向观察视野，为给定的观察视野提供更高的体素密度，或为大型样品提供宽横向观察视野和更大的三维体积。
自动滤光片转换器（AFC）无需手动干预即可实现无缝滤光片转换，并针对每个配方对您的选择进行编程和记录。
借助出众的分辨率性能来革新您的研究
蔡司40×-Prime物镜
蔡司VersaXRM 730搭载特色的40×-Prime物镜，助您在30 kV至160 kV的完整源电压范围内实现450-500 nm的出色图像分辨率性能。这一特色为研究人员解锁了全新的应用程序功能，推动了亚微米成像分辨率的行业标准发展。此外，随着X射线光子的增加，可在不影响分辨率的情况下更快获取各种样品的结果。蔡司VersaXRM以实现大工作距离高分辨率（RaaD™）的功能而闻名，始终能够在长尺度范围内对多种样品类型和尺寸进行高分辨率成像。凭借VersaXRM 730特色的40×-Prime物镜和更高的能量，如今您将体验到超越以往的亚微米成像。
基于人工智能的优质图像
高级重构工具箱中的蔡司DeepRecon Pro
蔡司DeepRecon Pro已成为XRM重构的强大工具，因此VersaXRM 730包含了ART高性能工作站和DeepRecon Pro（许可证为期两年）。
DeepRecon Pro是一项基于人工智能的创新技术，可为各种应用带来出色的效率和图像质量优势。DeepRecon Pro既适用于单个样品，也适用于半重复和重复的工作流。用户现可通过使用简便易用的界面在现场独立训练全新的机器学习网络模型。DeepRecon Pro的一键式工作流让新手用户也能熟练操作，无需熟知机器学习技术的专家从旁辅助。
揭示晶体结构信息
用于衍射衬度断层扫描（DCT）的LabDCT Pro
用于衍射衬度断层扫描（DCT）的LabDCT Pro仅为蔡司VersaXRM 730提供，可实现对晶粒取向和微观结构的无损三维成像。三维晶粒取向的直接可视化开辟了多晶材料表征的新维度（如金属合金、地质材料、陶瓷或药品）。
LabDCT Pro支持从立方对称的晶体结构到低对称系统（如单斜晶系材料）的样品。
使用专用4X DCT物镜采集高分辨率晶体信息。对于更大样品，使用平板探测器（FPX）进行大面积高效率面分布成像。
对更大的代表性体积和各种不同的样品几何形状进行全面的三维微观结构分析。
利用四维成像实验研究微观结构演化。
将三维晶体信息和三维微观结构特征相结合。
结合多种模式以了解结构-属性关系。
在衬度方面更进一步
双扫描衬度可视化系统（DSCoVer）为VersaXRM 730所独有，通过结合在两种不同X射线能量下拍摄的断层图像信息，扩展了在单个能量吸收图像中捕获的细节。DSCoVer（双扫描衬度可视化系统）充分利用X射线与材料中的有效原子序数和密度的相互作用，以此为您提供较好的区分能力，例如，它能够识别岩石内的矿物差异性、区分硅和铝等难以辨识材料的差异。
实现全新的自由度
旗舰产品VersaXRM 730提供额外的特色和成像功能。
使用先进的采集技术，如高纵横比断层扫描成像（HART），提高大体积、扁平或不规则样品的扫描速度和精度。
利用宽场模式（WFM）对大型样品进行灵活成像，可用于横向拼接投影图像，以形成更广的横向观察视野，为给定的观察视野提供更高的体素密度，或为大型样品提供宽横向观察视野和更大的三维体积。
自动滤光片转换器（AFC）无需手动干预即可实现无缝滤光片转换，并针对每个配方对您的选择进行编程和记录。
VersaXRM 615
蔡司VersaXRM 615在科学和工业研究领域为您开启多样化应用的新境界。这一经济高效的高端X射线显微镜解决方案提供先进的分辨率和衬度，进一步推动了无损成像的发展，以加快研究进展。其创新的射线源和光学技术不仅确保了成像质量，还实现了快速的断层扫描。同时，无缝的工作流程使您在不改变样品的情况下，能够深入探索高分辨率感兴趣区域。
大工作距离高分辨率，500 nm空间分辨率
25 W快速激活闭管源
基于平板的快扫模式
使用蔡司VersaXRM 615探索多功能性的新境界
开创探索新境界
蔡司VersaXRM 615在科学探索和工业研究领域为您开启多样化应用的新境界。经济高效的高端X射线显微镜是现代化分析实验室的理想之选。利用高分辨率和高衬度，VersaXRM 615突破了无损成像的研究界限，可提供高灵活性并加快您的研究进展。
射线源和光学技术的突破性创新提高了X射线通量，能够在不影响分辨率和衬度的条件下提升断层扫描速度。创新的数据采集工作流使您无需切割样品即可定位高分辨率感兴趣区域。VersaXRM 615助您实现从探索到发现的无缝衔接。
为您的蔡司VersaXRM 615搭载先进功能
ZEN navx导航和控制系统助力所有用户获得出色结果。
ZEN navx文件传输工具可将数据自动传输至所需之处。
Volume Scout可实现真正的三维导航。
SmartShield和SmartShield Lite保护您的系统及样品。
DeepRecon Pro（2年许可证）和高性能工作站可提高通量（高达10倍）或提供出色的图像质量。
40×物镜可实现500 nm的空间分辨率以及小至40 nm的体素。
使用FAST模式进行一分钟断层扫描，提供更大的观察视野，实现高通量宏观成像。需选配平板探测器（FPX）。
根据您的研究需求，从高级重构工具箱中升级并获取更多功能。
Xradia 515 Versa
专为现代化实验室设计的蔡司Xradia 515 Versa是一款值得信赖的X射线显微镜，为您的科学和工业研究提供出众的多样化应用。其标志性的大工作距离高分辨率（RaaD）功能可助您在较长的工作距离下依然保持优异的分辨率，为各类样品提供突破性的见解。结合强大的衬度和四维/原位功能，可满足各种研究需求，该平台十分灵活，确保快速提供成像结果。
500 nm的空间分辨率
可实现40 nm的最小体素
10 W快速激活闭管源
一流的大工作距离高分辨率
Xradia 515 Versa
蔡司Xradia 515 Versa比microCT更胜一筹，在科学探索和工业研究领域为您开启多样化应用的新境界。Xradia 515 Versa作为X射线显微镜的利器，搭载Versa XRM平台的标志性大工作距离高分辨率（RaaD）成像技术。全球的前沿研究人员和科学家都仰仗大工作距离高分辨率（RaaD）功能，确保在更大的工作距离内保持高分辨率，以获得出色的科学见解和研究成果。蔡司Versa X射线显微镜的灵活性与强大的衬度和四维/原位功能相结合，可满足不同的样品尺寸、类型和研究需求。该产品颇为实用，可快速为您的实验室提供成像结果。
蔡司Xradia 515 Versa特色功能
定位和扫描（Scout-and-Scan）控制系统
40×物镜可实现500 nm的空间分辨率以及小至40 nm的体素
基于同步辐射口径光学元件的两级放大架构
用于系统/样品保护的SmartShield
可实现高性能的系统稳定性
选配的平板探测器（FPX）可实现大观察视野成像
选配的高级重构工具箱可增强性能
可选配件：可编程的自动进样装置最多可处理14个样品，原位接口组件可用于原位/四维成像